PlateLyzer Elite是(shì)一(yī)台專為(wèi)可(kě)視(shì)化(huà)生(shēng)物(wù)芯片所開(kāiβ)發的(de)專業(yè)分(fēn)析設備，可(kě)掃描 96 孔闆、載玻片、薄膜和(hé)定制(zhì)化(huà)生(shēng)物(wù)傳感器(qì)等。

功能(néng)特色：
精密取像控制(zhì),機(jī)身(shēn)小(xiǎo)巧便攜
高(gāo)精度、高(gāo)品質成像
高(gāo)通(tōng)量檢測，适用(yòng)于半定量，定量分(fēn)析（配套生(shēng)物(wù)芯片）
穿透式、反射式兩種取像模式
可(kě)定制(zhì)開(kāi)發

陣列掃描成像應用(yòng)：
配套生(shēng)物(wù)芯片及專業(yè)的(de)MiELISA分(fēn)析軟件(jiàn)可(kě)以實現(xiàn)多(duō)靶标高(gāo)通(tōng)量，快(εkuài)速定量分(fēn)析檢測：
    （1） 分(fēn)析速度：在150s內(nèi)完成檢測；
    （2） 檢測通(tōng)量：可(kě)對(duì)90個(gè)不(bù)同樣本進行(xíng)半定量，定量分(fēn)析；
    （3） 多(duō)靶标分(fēn)析：每個(gè)樣本可(kě)檢測多(duō)種不(bù)同的(de)檢測項目；
    （4） 每種檢測項目獨立定量，無相(xiàng)互幹擾；
    （5） 使用(yòng)便捷：自(zì)動生(shēng)成檢£測報(bào)告，無需繁瑣的(de)數(shù)據處理(lǐ)；
    （6） 自(zì)動化(huà)：分(fēn)析過程中，MIELISA軟件(jiàn)可(kě)以準确自(zì)動識别生(shēnΩg)物(wù)芯片上(shàng)多(duō)達4000個(gè)微(wēi)米級陣列點，并且自(zì)動計(jì)算(suàn)其信号值；
    （7） MiELISA具有(yǒu)自(zì)動校(xiào)正功能(néng)，可(kě)識别不(bù)完整的(de)陣★列點并進行(xíng)校(xiào)正；同時(shí)具有(yǒu)漏點檢測功能(néng)，避免因芯片漏點帶來(lái)檢測誤差。